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2020-11-17
掃描電子顯微鏡，是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來迅速發(fā)展起來的一種新型的電子光學(xué)儀器，被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。如圖1所示，是掃描電子顯微鏡的外觀圖。特點(diǎn)制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等[1]，對(duì)于導(dǎo)電材料，可直接放入樣品室進(jìn)行分析，對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。基本結(jié)構(gòu)從結(jié)構(gòu)上看，如圖2所示，掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探...2020-11-16
紫外吸收光譜、熒光光譜法、紅外吸收光譜法。。。這些都是我們在實(shí)驗(yàn)室里常用的儀器分析方法。今天從縮寫、分析原理、譜圖的表示方法、提供的信息角度為各位進(jìn)行簡要梳理。1.紫外吸收光譜：縮寫：UV；分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級(jí)的躍遷；譜圖的表示方法：相對(duì)吸收光能量隨吸收光波長的變化；提供的信息：吸收峰的位置、強(qiáng)度和形狀，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息。2.熒光光譜法：縮寫：FS；分析原理：被電磁輻射激發(fā)后，從低單線激發(fā)態(tài)回到單線基態(tài)，發(fā)射熒光；譜圖的表示方法：發(fā)射的熒光...2020-11-16
一、化妝品行業(yè)水分測定儀測量原料及產(chǎn)品的水分含量紫外分光光度計(jì)定性或定量原料及半成品含量傅立葉變換紅外光譜儀定性分析化妝品原料壓片機(jī)處理紅外樣品氣相色譜儀定性分析化妝品原料及半成品中所含物質(zhì)氫氣、氮?dú)?、空氣發(fā)生器配合氣相色譜儀使用高效液相色譜儀定性或定量分析化妝品原料及半成品活性成分，各類防腐劑、防曬劑等超聲波清洗機(jī)試劑脫氣振蕩器高效液相樣品的前處理工作生化培養(yǎng)箱測試化妝品原料及半成品的微生物(霉菌和細(xì)菌)含量烘箱用于微生物實(shí)驗(yàn)室玻璃儀器的滅菌及原料的固含量的測定pH計(jì)測定原...2020-11-16
21項(xiàng)誤差通常將坐標(biāo)測量機(jī)的幾何參數(shù)誤差按其在各運(yùn)動(dòng)自由度方向作用分類，分為3項(xiàng)位置度、6項(xiàng)直線度、9項(xiàng)角擺誤差、以及3軸相互之間的3項(xiàng)垂直度，共21項(xiàng)參數(shù)誤差。21項(xiàng)誤差是測量機(jī)的基本幾何誤差，為了保證測量機(jī)滿足示值誤差及探測誤差的要求，生產(chǎn)廠家都要測量和控制這21項(xiàng)誤差，必要時(shí)進(jìn)行補(bǔ)償。21項(xiàng)誤差的測量可以使用不同的測量儀器進(jìn)行檢測以便于修正，包括雙頻激光干澀儀、、直角尺、高精度。但是，需要注意的是使用上述儀器測量參數(shù)誤差時(shí)，測量結(jié)果可能是幾種參數(shù)誤差的綜合結(jié)果。這21項(xiàng)...2020-11-16
上的通用語言，除了“英語”，還有一個(gè)小伙伴們可能不知道的，那就是“形位公差”，它是貫穿制造業(yè)設(shè)計(jì)·生產(chǎn)·品質(zhì)管理等部門的通用“語言”。“理想與現(xiàn)實(shí)的差距”——只要是我們制作的產(chǎn)品，無論用多精密的設(shè)備，無論做多大的努力，其尺寸和形狀也是無法*符合理論數(shù)值要求的。那么，做到多少才能與理論形狀、位置相近呢？我們把該相近程度用數(shù)值來表示，這就是形狀公差和位置公差，簡稱“形位公差”。設(shè)計(jì)時(shí)，須將零件的形位公差按照規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)符號(hào)標(biāo)注在圖樣上來傳達(dá)信息。形位公差的標(biāo)準(zhǔn)化——隨著*球化的發(fā)展...2020-11-16
表面粗糙度的概念表面粗糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩波峰或兩波谷之間的距離（波距）很?。ㄔ?mm以下），它屬于微觀幾何形狀誤差。具體指微小峰谷Z高低程度和間距S狀況。一般按S分：S＜1mm為表面粗糙度；1≤S≤10mm為波紋度；S＞10mm為f形狀。VDI3400、Ra、Rmax對(duì)照表國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定常用三個(gè)指標(biāo)來評(píng)定表面粗糙度（單位為μm）：輪廓的平均算術(shù)偏差Ra、不平度平均高度Rz和大高度Ry。在實(shí)際生產(chǎn)中多用Ra指標(biāo)。輪廓的大微觀高度偏差Ry在日本等...
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